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研討會
<線上研討會>R&S - 概觀下世代行動裝置設計驗證 2021/07/22

Title:概觀下世代行動裝置設計驗證

Date:2021/07/22(週四)

Time:10:00 AM(約45分鐘)

 

 新世代行動通訊標準中,資料傳輸速率、覆蓋率、網路延遲、電池壽命以及頻寬等等對行動裝置至關重要。現今行動裝置系統組成日趨複雜,如記憶體、數位數理器、顯示及相機介面及日益增加的感測器等數位設計及充電、電源管理、或更高的電池壽命等電源議題,日益重要!

 

 日益增加的數位介面所關注的信號完整度、印刷電路板相互間的測試、RF測試以及電源供應器的Power Integrity等測試問題,除在行動裝置,也在基站端,正因漸趨複雜的系統設計而倍受挑戰。

 

 本次線上研討會邀請 Rohde & Schwarz 的國際專家,針對高速數位界面的驗證所面臨的棘手電路板De-embedding議題,為使用者帶來新穎眼圖的測試解決方案。並為用者解析jitter分析在高度整合的系統中如何協助研發者debugging。

 

 在USB、SATA、MIPI等驗證方案,Rohde & Schwarz亦提出便捷的自動化測試及自動報告軟體,令研發工程師能輕鬆有效的完成繁瑣的測試步驟、電源工程師關注的電源完整性、該如何選用設備以及其對應的probe,並善用量測功能進而分析除錯,亦為本次研討會重點,機會難得,不容錯過!

 

※07/22 感謝各位的參與與關注,本研討會已順利結束,您可以至以下連結重新觀看,或是下載本次研討會的講義

 

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